[发明专利]物质的测定方法及试片无效
申请号: | 96199465.7 | 申请日: | 1996-10-30 |
公开(公告)号: | CN1103919C | 公开(公告)日: | 2003-03-26 |
发明(设计)人: | 福冈隆子;片山敦子;山原建次;米原聪 | 申请(专利权)人: | 株式会社京都第一科学 |
主分类号: | G01N21/75 | 分类号: | G01N21/75;G01N31/22;C12Q1/28;G01N33/52 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 孟八一,钟守期 |
地址: | 日本京都*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明是根据测定分析对象物质的化学反应生成的可检测物质来测定分析对象物质的方法。通过使包括可检测物质的生成反应的反应系统中存在层状无机化合物,可以进行高灵敏度的测定。另外,通过使可检测物质稳定化,可以提高测定精度。此外,还可以提高化学反应的反应速度,迅速进行测定。再有,即使在含有生成不溶性物质的反应的反应系统中也可以保持高的灵敏度。本发明还涉及利用包括试样中的分析对象物质生成可检测物质的化学反应的反应系统、通过测定上述可检测物质来测定上述分析对象物质的分析用试片。该试片配备有至少1个包括用于检测上述可检测物质的检测部的试验部分,至少在上述试验部分中含有层状无机化合物,从而可以抑制色素扩散和洗脱,实现准确的检查和分析并且易于操作。 | ||
搜索关键词: | 物质 测定 方法 试片 | ||
【主权项】:
1.分析物的测定方法,该方法是利用包括试样中的分析对象物质生成可检测物质的化学反应的反应系统测定上述可检测物质,从而测定分析对象物质,其特征是,在包括可检测物质的生成反应的反应系统中存在层状无机化合物。
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