[实用新型]一种紫外(i线)投影光刻光学透镜系统无效

专利信息
申请号: 96232948.7 申请日: 1996-04-10
公开(公告)号: CN2288462Y 公开(公告)日: 1998-08-19
发明(设计)人: 林大键 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;G02B27/18
代理公司: 中国科学院成都专利事务所 代理人: 张一红,姜念云
地址: 61020*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 实用新型提供了一种新型的紫外(i线)透影光刻光学透镜系统,可用于实现半微米的光刻分辨力,该系统的特点是整个系统是由三种典型的光学结构(三片型(Triplet)、双高斯型、松纳(Sonnar)变形组合而成,使其具有衍射极限的分辨力,该系统的主要参数(1),缩小倍率M=-1/5;(2),像场尺寸15mm×15mm;(3),数值孔径NA=0.5,(4),使用波段365nm~368nm;(5),全视场内,相对畸变DT≤0.001%。
搜索关键词: 一种 紫外 投影 光刻 光学 透镜 系统
【主权项】:
1,一个包括光学元件组成的紫外投影光刻光学透镜系统,其特征在于是基于三个典型的光学结构:三片型、双高斯型和松纳型变形组合而成,分为前组(1)、(2)、(3)、(4)、(5)、(6);中组(7)、(8)、(9)、(10)、(11)、(12)、(13)、(14)、(15)、(16)、(22);后组(17)、(18)、(19)、(20)、(21)三个透镜组,并在中组的光学元件(11)和(12)之间设置一光栏(22),
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