[发明专利]分析固体样品的方法和设备无效
| 申请号： | 97102221.6 | 申请日： | 1997-01-09 |
| 公开（公告）号： | CN1177100A | 公开（公告）日： | 1998-03-25 |
| 发明（设计）人： | 秋吉孝则;坂下明子;石桥耀一;望月正;佐藤重臣;前川俊哉 | 申请（专利权）人： | 日本钢管株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/63 | 分类号： | G01N21/63 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 王以平 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种分析固体样品的方法,包括产生一种具有频率至少为100Hz和半宽等于或小于1μs的脉冲激光束;确定激光的辐射区域;在惰性气体气流中辐射脉冲激光束使固体样品部分气化产生细小颗粒;将细小颗粒送到一探测器中;和在探测器中进行成分分析。设备包括含有一个半导体激光器的激光振荡装置;聚焦激光束的聚焦装置,辐射聚焦的激光束以产生细小颗粒的辐射装置;进行元素分析的分析仪;及将细小颗粒传送到上述分析仪的传送装置。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 固体 样品 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种分析固体样品的方法，包括步骤：(a)准备具有频率至少为100Hz和半宽等于或小于1微秒的一脉冲激光束；(b)确定激光辐射范围，使能量密度满足以下公式：Q＞t1/2×α/r式中Q代表能量密度(J/cm2)。t代表脉冲的半宽，α代表固体样品的固有参数，和r代表激光束的吸收率；(c)将具有所述辐射范围的脉冲激光束辐射到惰性气流中的固体样品的表面，使固体样品部分气化产生细小颗粒；(d)对已在(c)步骤中被脉冲激光束辐射的表面重复步骤(c)，以产生更多的细小颗粒；(e)将步骤(c)和(d)中形成的所述的细小颗粒传送到一个探测器；和(f)在探测器中进行元素分析。
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