[发明专利]表面起伏式绕射光学元件及其制作方法无效

专利信息
申请号: 97103984.4 申请日: 1997-04-11
公开(公告)号: CN1058337C 公开(公告)日: 2000-11-08
发明(设计)人: 蔡忠杰 申请(专利权)人: 财团法人工业技术研究院
主分类号: G02B3/08 分类号: G02B3/08;G02B5/18
代理公司: 隆天国际专利商标代理有限公司 代理人: 潘培坤,左明坤
地址: 台湾新竹县*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种表面起伏式绕射光学元件及其制作方法包括下列步骤(1)利用一种渐进式(或多层次)光折射率系数分布镀膜技术,在基板上镀上一层渐进光折射率系数分布膜,使光束经过时产生光程差,再以光阻涂布,然后以光罩制版或以激光直接干涉的方式,直接在光阻上拍摄出所需之绕射条纹;(2)经显影、定影而将所需之绕射条纹形成于光阻上;(3)利用前述光阻做为光罩,对渐进式(或多层次)光折射率系数分布膜进行蚀刻,借以在前述的分布膜上形成绕射条纹,最后去除光阻。
搜索关键词: 表面 起伏 式绕射 光学 元件 及其 制作方法
【主权项】:
1.一种表面起伏式绕射光学元件的制作方法,包括下列步骤:(1)利用一种渐进式光折射率系数分布镀膜技术,在基板上镀上一层渐进光折射率系数分布膜,使光束经过时可产生光程差,再以光刻胶涂布镀有渐进式光折射率系数分布膜的基板,渐进式光折射率系数分布规格可由绕射条纹线宽及所需效率等参数,再经精确的耦合波理论计算出所须的光折射率系数分布,然后以激光直接干涉的方式,直接在光刻胶上拍摄出所需之绕射条纹;(2)经由显影、定影而将所需之绕射条纹形成于光刻胶上;(3)利用前述光刻胶做为光掩模,并以半导体工艺中常用的蚀刻技术,对渐进式光折射率系数分布膜进行蚀刻,借以在前述渐进式光折射率系数分布膜上形成绕射条纹,最后将光刻胶去除。
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