[发明专利]粒子分析装置无效
| 申请号： | 97104583.6 | 申请日： | 1997-04-02 |
| 公开（公告）号： | CN1161599C | 公开（公告）日： | 2004-08-11 |
| 发明（设计）人： | 久保田文雄;楠泽英夫 | 申请（专利权）人： | 希森美康株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/14 | 分类号： | G01N15/14;G01N33/487;G01N21/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 杜日新 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 粒子分析装置，它包括将含有粒子的试样变换为试样流的包被流槽、以连续光照明试样流的第一光源、将检测出的来自为第一光源所照明的粒子的光变换为表示粒子特征的粒子信号的光探测元件、以瞬时光照明试样流的第二光源、对第二光源照明的粒子摄像以获得粒子图像的摄像机、将粒子信号和粒子图像作为粒子分析用数据进行粒子分析的分析部，后者设有禁止部，能使第二光源发光时求得的光探测元件的粒子信号不作为粒子分析用数据。 | ||
| 搜索关键词： | 粒子 分析 装置 | ||
【主权项】：
1.一种粒子分析装置，包括：将含有粒子的试样变换为试样流的包被流槽；以连续光照明前述试样流的第一光源；将检测出的来自为第一光源所照明的粒子的光变换为表示粒子特征的粒子信号的光探测元件；以瞬时的光照明前述试样流的第二光源；对第二光源照明的粒子摄像以获得粒子图像的摄像机；以及将上述粒子信号和粒子图像作为粒子分析用数据进行粒子分析的分析部，其特征在于所述分析部具有用来将来自光探测元件的粒子信号预先进行A/D变换的A/D变换器，并设有禁止部，能够将在包含前述第二光源发光期间的所规定期间内取得的来自光探测元件的粒子信号不作为粒子分析用数据。
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