[发明专利]聚合物绝缘子的非破坏检查方法及其检查设备无效
| 申请号： | 97109951.0 | 申请日： | 1997-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN1091519C | 公开（公告）日： | 2002-09-25 |
| 发明（设计）人： | 大川恭史;中村逸志;铃木富雄;堀正洋 | 申请（专利权）人： | 日本碍子株式会社 |
| 主分类号： | G01N29/14 | 分类号： | G01N29/14 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 陆立英 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 被公开一个检查聚合物绝缘子封装缺陷的非破坏检查方法，该聚合物绝缘子具有一个FRP芯子，一层套在FRP芯子上的外皮部份，和至少一个金属构件封装在FRP芯子的至少一端，该非破坏检查方法包含以下步骤测量当金属构件用一个夹紧模具往FRP芯子封装时产生的声发射信号；和根据过程中的声发射信号判定是否产生封装缺陷。还有，被公开的一个进行上述非破坏检查的设备。#! | ||
| 搜索关键词： | 聚合物 绝缘子 破坏 检查 方法 及其 设备 | ||
【主权项】：
1.一个测量聚合物绝缘子封装缺陷的非破坏检查方法，该聚合物绝缘子具有一个FRP芯子，一层套在上述FRP芯子上的外皮部份，和至少一个金属构件封装在上述FRP芯子的至少一端，该非破坏检查方法包含以下步骤：测量当上述金属构件用一个压缩模具往上述FRP芯子封装时产生的声发射信号；和根据上述过程中的声发射信号判定是否产生上述的封装缺陷，其中采用压缩模具进行的上述封装是使加在上述金属构件上的压力保持恒定达几秒钟来完成，只在上述压力保持间隙中测量上述声发射信号。
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