[发明专利]半导体集成电路是否合格判定方法及半导体集成电路无效
| 申请号： | 97112950.9 | 申请日： | 1997-06-09 |
| 公开（公告）号： | CN1143321C | 公开（公告）日： | 2004-03-24 |
| 发明（设计）人： | 赤松宏 | 申请（专利权）人： | 三菱电机株式会社 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00;H01L21/66 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 杨凯;叶恺东 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种半导体集成电路是否合格的判定方法及半导体集成电路。具有合格品熔丝切断工序(61)，只在通过晶片测试判定为合格品的情况下才切断熔丝。而且包括输入输出信号的规定的输入输出端子、根据从输入端子输入的输入信号产生判定是否合格用的测试信号(S21)的测试方式电路(41)以及具有只在通过晶片测试工序(60)判定为合格品的情况下才切断的熔丝(74)，并根据测试信号(S21)的输入来输出与熔丝有没有被切断对应的逻辑值(S22)的是否合格的确认电路(44)。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 集成电路 是否 合格 判定 方法 | ||
【主权项】：
1.一种半导体集成电路，其特征在于，包括：将外部电源电压降至内部电源电压的电压变换电路；输入输出信号的规定的输入输出端子；根据从所述输入端子输入的输入信号，产生区别测试方式和非测试方式的测试信号的测试方式电路；和是否合格确认电路，由可以激光熔断的熔丝和逻辑电路构成，当输入表示测试方式的测试信号时，如所述熔丝被切断，则输出表示熔丝切断状态的逻辑值，如所述熔丝没有被切断，则输出表示熔丝非切断状态的逻辑值，而且，当输入表示非测试方式的测试信号时，无关乎所述熔丝的切断状态，而输出所述表示熔丝切断状态的逻辑值；所述电压变换电路具有根据所述是否合格确认电路输出的逻辑值而开关的晶体管，所述晶体管在上述是否合格确认电路输出上述表示熔丝非切断状态的逻辑值时输出外部电源电压，在上述是否合格确认电路输出所述表示熔丝切断状态的逻辑值时输出内部电源电压，从而可以判断上述可以激光熔断的熔丝是否被切断。
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