[发明专利]定子的测试装置和方法无效
| 申请号： | 97122244.4 | 申请日： | 1997-11-11 |
| 公开（公告）号： | CN1073235C | 公开（公告）日： | 2001-10-17 |
| 发明（设计）人： | 李德圭;尹泰一 | 申请（专利权）人： | 三星光州电子株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/34 | 分类号： | G01R31/34 |
| 代理公司： | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人： | 杨梧,朱勤 |
| 地址： | 韩国光*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一用于测试定子的装置和方法，包括一控制装置，用于从键盘输入装置接收操作起始指令；电阻测量装置，用于测量被测定子的电阻值；冲击电流特性测试装置，用来测试被测定子冲击电流响应特性；耐压测量装置，用来测试被测定子的耐压特性；旋转方向检测装置，用来检测一个参考转子的旋转方向，通过向被测定子提供电流使参考转子转动，一个位置固定装置，用来固定被测定子，以便执行各种测试；以及一个显示装置，用于利用控制装置显示各种测试结果。$＃E | ||
| 搜索关键词： | 定子 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1．一种用于测试定子的装置，包括：一个控制装置，用于通过一个键盘输入装置接收一操作起始指令；和一个显示装置，用于利用所述控制装置显示测试结果，其特征在于，该测试定子的装置还包括：一个电阻测量装置，由所述控制装置驱动，用于测量被测定子的电阻值；一个冲击电流特性测试装置，由所述控制装置驱动，用于测试所述被测定子的冲击电流响应特性；一个耐压测量装置，由所述控制装置驱动，用于测试所述被测定子的耐压特性；一个旋转方向检测装置，由所述控制装置驱动，用于检测一个参考转子的旋转方向，通过向所述被测定子提供电流使参考转子转动；一个位置固定装置，用于固定所述被测定子，以便执行所述的各种测试。
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