[发明专利]核径迹微孔薄膜防伪标志及其鉴别方法无效
申请号: | 97125868.6 | 申请日: | 1997-12-26 |
公开(公告)号: | CN1195833A | 公开(公告)日: | 1998-10-14 |
发明(设计)人: | 何向明;严玉顺;张泉荣;万春荣;姜长印;王守忠 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G09F3/00 | 分类号: | G09F3/00 |
代理公司: | 清华大学专利事务所 | 代理人: | 罗文群 |
地址: | 10008*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种核径迹微孔薄膜防伪标志及其鉴别方法,该防伪标志由核径迹防伪膜、胶粘剂、面层和压敏胶等组成。其制备方法是先用中子轰击的裂变碎片辐照塑料薄膜,用紫外线在薄膜上成像,最后用化学试剂蚀刻,制得核径迹膜,再将该膜用胶粘剂粘合于面层上,即制得防伪标志。该防伪标志可用多种透明或浅色液体加以识别,因此具有防伪效果好,使用方便、鉴别方便和实用的特点。 | ||
搜索关键词: | 径迹 微孔 薄膜 防伪 标志 及其 鉴别方法 | ||
【主权项】:
1、一种核径迹微孔薄膜防伪标志,其特征在于该防伪标志由核径迹防伪膜、胶粘剂和面层组成,其制备方法包括下列各步骤:(1)制作核径迹防伪膜:选用厚度为5-25μm的透明塑料薄膜为原材料,利用核反应堆产生的中子轰击铀-235使其放出裂变碎片,利用裂变碎片来辐照塑料薄膜,反应堆功率为1-5000千瓦,辐照时间为0.1-300秒,或利用高能离子加速器产生的重离子来辐照塑料薄膜,辐照时间为0.5-200秒,然后,利用紫外线通过成象底片或模板对辐照后的塑料薄膜成象,紫外线灯功率为500-2000瓦,灯与薄膜的距离为0.1-50cm,成象时间为10秒-180分钟,最后用化学试剂对塑料薄膜进行选择性部分蚀刻,蚀刻剂为NaOH、KOH或H2SO4溶液,蚀刻时间为1-180分钟,蚀刻出清晰的图案后,洗涤晾干,形成核径迹防伪膜。(2)选取有颜色的面层;(3)在核径迹防伪膜的非图案部分,涂布或印刷上普通市售胶粘剂,然后粘贴或覆合在有色层上,即得防伪标志。
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