[发明专利]工程材料无损检测方法及装置

摘要

本发明涉及一种工程材料无损检测方法及装置，该方法是利用一个无损检测装置将标准样品在模拟环境条件下置于CT机内，利用CT机对其进行断面扫描以得出其数值图像经验函数修正方程，再将被测材料装入装置内，模拟材料使用条件；再利用CT机对其扫描并记录处理图像，根据修正方程和已知的被测样品的各参数即可得到被测样品对X射线的吸收系数μ，从而得到修正后的μ值的CT图像值并进行计算机图像处理，定量给出材料在模拟实验条件下的工程性质；其装置是在一实验仓内设有各向温度、压力；本发明的方法可定量给出材料的力学性质，其装置结构简单、使用方便。

主权项

1、一种工程材料无损检测方法，其特征是含有下述步骤：(1)利用一个工程材料无损检测装置将标准样品在模拟环境条件下置于CT机内，利用CT机对其进行多层位断面扫描以得出其数值图像经验函数修正方程：Hp＝(μ-1){1+fa(r)+fb(r-x)+fc[(R-x)，μ1]+fd[(r’-x)，μ2]}，式中Hp为标准样品的CT机的CT值，μ为标准样品对X射线的吸收系数，fa(r)为样品尺寸线性函数，fb(r-x)为X射线硬化积分函数；fc[(R-x)，μ1]为装置卷积函数，fd[(r’-x)，μ2]为介质卷积函数；其中各函数中R为产生卷积扩散的边界半径、x为被测点离扫描中心的距离、r为样品半径、r’为介质最大尺寸、μ1、μ2为装置和介质与样品X射线吸收系数之差；(2)将被测工程材料装入检测装置内，模拟工程材料使用条件施加各向荷载和温度变量；再利用CT机对其进行多层位、多次扫描并记录处理图像，根据修正方程和已知的被测样品的R、x、r、r’即可得到被测样品对X射线的吸收系数μ，从而得到修正后的μ值的CT图像值；(3)再根据模拟的实验条件，对修正后的CT图像进行计算机图像处理，从而可定量给出工程材料在模拟实验条件下的工程性质。