[发明专利]光检测装置无效
| 申请号： | 97180956.9 | 申请日： | 1997-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN1146999C | 公开（公告）日： | 2004-04-21 |
| 发明（设计）人： | 约翰·赫兰;格雷厄姆·亨利·思塔特 | 申请（专利权）人： | 阿特麦研究公司 |
| 主分类号： | H01L27/14 | 分类号： | H01L27/14 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 付建军 |
| 地址： | 开曼群岛（*** | 国省代码： | 开曼群岛;KY |
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| 摘要： | 一个光检测装置有一个被安排成为一个反偏晶体管提供一个偏置电流的加偏晶体管。该反偏晶体管有经过一个高阻抗电阻连接到供电电压的一个漏电极。通过检测该漏电极上的电压降可以检测输入可见光。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 装置 | ||
【主权项】：
1.一个光检测装置，包括：一个偏置电路，其作用是提供一个偏置电流；一个反偏晶体管，该反偏晶体管有被该偏置电流反偏的一个控制极和一个导电极；和，一个电阻，连接在一个供电电源和该反偏晶体管的导电极之间；其中从该反偏晶体管的导电极上的电压降可以检测到输入的可见光。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的；包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的，或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的；包括有热磁组件的
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的；包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的，或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的；包括有热磁组件的
