[发明专利]振动激励装置和使用该装置的结构振动测试装置无效

专利信息
申请号: 97182121.6 申请日: 1997-03-17
公开(公告)号: CN1253623A 公开(公告)日: 2000-05-17
发明(设计)人: 桃井康行;堀内敏彦;梅北和弘;井上雅彦;今野隆雄;菅野正治;多田野有司 申请(专利权)人: 株式会社日立制作所
主分类号: G01M7/02 分类号: G01M7/02
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 马浩
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 用于结构的寻找在平移方向和旋转方向变形的结构振动响应的振动激励测试装置,及用于该装置的振动激励装置。该振动激励测试装置实际上进行结构的一部分的振动激励测试,进行结构的其它部分振动响应的数值计算,并组合这两种方法寻找整个结构的振动响应。于是,该振动激励测试装置包括用于在平移方向和旋转方向引起原型(14)振动激励的多轴振动激励装置(110),用于从振动激励器(1,2,3)的位移计算激励力(16)点的位置的器件(101),及用于从负荷检测器(12a,12b)检测的负荷和激励力(16)点的位置来计算反作用力的器件(102)。在下一步计算器(103)使用由计算器(102)计算的反作用力和已知的外力计算数值模型的位移,计算器(104)基于该位移计算振动激励器位移命令值,且驱动器件(105)基于来自计算器(104)的输出驱动振动激励器(1,2,3)。
搜索关键词: 振动 激励 装置 使用 结构 测试
【主权项】:
1.一种用于结构的振动测试装置,该装置装有用于对模仿结构一部分的原型引起振动激励的振动激励装置,及用于计算设想与原型连接的数值模型的振动响应的控制计算装置,该装置还进行整个结构的振动测试,其中所述振动激励装置装有多个用于引起原型振动激励的振动激励器,多个用于检测多个振动激励器位移的位移检测器及用于检测施加到所述原型的负荷的负荷检测器,且所述控制计算装置装有计算器,用于计算先前基于由所述负荷检测器所检测的负荷及由所述多个位移检测器检测的振动激励器的位移而确定的激励力点的平移方向和旋转方向的位移,并装有信号产生器,用于基于计算器的输出产生驱动所述振动激励器的驱动信号。
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