[发明专利]液晶显示屏的检验装置、液晶显示屏的检验方法及液晶显示屏的制造方法无效

专利信息
申请号: 97191125.8 申请日: 1997-09-02
公开(公告)号: CN1199466A 公开(公告)日: 1998-11-18
发明(设计)人: 行田幸三 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: G01R1/073 分类号: G01R1/073;G01R31/28
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 姜郛厚,叶恺东
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供在IC芯片安装前能够进行基本彻底的显示屏检验,同时还能够进行外部端子部分上的布线图形检验的新型液晶显示屏的检验装置结构。设有供气孔40a、宽口开口部分40b和弹性片42。在弹性片42的外面粘接固定IC芯片A。在保持板40的下面粘接固定柔性电路基板43,在柔性电路基板43上设有布线图形43a。导电性金属线44的一端焊接在连接端子部分43b上,另一端焊接在接触端子45上。对连接端子部分43b和导电性金属线44进行模压,形成模压体46。
搜索关键词: 液晶显示屏 检验 装置 方法 制造
【主权项】:
1.一种液晶显示屏的检验装置,其特征在于,包括:保持体,装载多条布线;集成电路,安装在该保持体的前端部分,配有露出的多个连接端子;和多个检验探针,与该集成电路的所述连接端子并列配置;在该检验探针上电连接所述布线。
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