[发明专利]确定导电材料组成的涂层厚度的方法有效

专利信息
申请号: 97192121.0 申请日: 1997-11-08
公开(公告)号: CN1133865C 公开(公告)日: 2004-01-07
发明(设计)人: 克劳斯·多布勒;汉斯约里·哈赫特尔;赖因哈德·迪姆克;弗朗茨·奥夫德海德;理查德·布拉特尔特;约瑟夫·韦伯 申请(专利权)人: 罗伯特·博施有限公司
主分类号: G01B7/06 分类号: G01B7/06;//G01B121∶02;101∶00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 蹇炜
地址: 联邦德国*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 在确定导电材料组成的涂层厚度的方法中,借助于标准化方法将测量误差转换成无量纲的标准值。在这一转换过程中,可以进一步消除例如由于温度偏移和基体材料不同的电特性和磁特性引起的测量误差。借助于校准曲线将这一标准值转换成涂层厚度值。
搜索关键词: 确定 导电 材料 组成 涂层 厚度 方法
【主权项】:
1.一种用至少一个通有交流电的测量线圈(14)来确定导电材料组成的涂层(20)厚度的方法,涂层涂敷在铁磁性材料组成的基体(17)上,可以计算出线圈的电感率变化,下面为测量步骤:—在只对由导电材料组成的涂层测量时,测定线圈(14)的电感率值L∞,—在只对由铁磁性材料组成的基体测量时,测定线圈(14)的电感率值L0,—在测量待被确定厚度的涂层(20)时,测定线圈(14)的电感率值LX,—将这些电感率值L∞、L0和LX转换为无量纲值Me,—借助于通过对一个校准体的涂层厚度的测量绘制的校准曲线将值Me转换为涂层厚度值。
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