[发明专利]正性光刻胶组合物的热处理方法无效

专利信息
申请号: 97192770.7 申请日: 1997-02-27
公开(公告)号: CN1124521C 公开(公告)日: 2003-10-15
发明(设计)人: R·R·达梅尔;卢炳宏;M·A·斯巴克;O·阿利勒 申请(专利权)人: 克拉里安特国际有限公司
主分类号: G03F7/38 分类号: G03F7/38
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 黄泽雄
地址: 暂无信息 国省代码: 暂无信息
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摘要: 描述了对于重氮萘醌磺酸酯-酚醛清漆正性光刻胶的快速后曝光烘烤(快速PEB)方法,该方法提供了显著的优点。该方法优选在底抗反射涂层上使用比抗蚀剂普通后曝光烘烤(PEB)较高的温度(≥130℃)和很短的烘烤时间(≤30秒)。它明显地提高了光刻胶的分辨能力、工艺宽容度、热变形温度、抗蚀剂附着力和抗等离子蚀刻性。
搜索关键词: 光刻 组合 热处理 方法
【主权项】:
1、在低反射率的基质上制备浮凸图像的方法,包括将一抗反射涂层施加在所述基质上,将重氮萘醌/酚醛清漆光刻胶涂敷在所述抗反射涂层上面,在光化性光线下将光刻胶曝光,烘烤光刻胶涂层,处理涂敷的基质以在该基质上显影图像,该烘烤步骤是通过将基质接触或紧靠着温度不低于130℃的加热的表面不长于30秒的时间而完成的。
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