[发明专利]具有倾斜PN结的双极型SOI器件及制造这种器件的方法无效

专利信息
申请号: 97192844.4 申请日: 1997-03-05
公开(公告)号: CN1212787A 公开(公告)日: 1999-03-31
发明(设计)人: A·利特文;T·安波尔格 申请(专利权)人: 艾利森电话股份有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/73;H01L21/302;H01L21/84;H01L21/331
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 邹光新,张志醒
地址: 瑞典斯*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在一种双极型绝缘体上半导体晶体管器件(1)内,包括位于绝缘体(3)上的半导体晶片例如单晶硅晶片(2)内的发射区(4)、基区(5)、集电区(2)、和集电极接触区(6),基极-发射极和集电极-基极结相对于半导体晶片(2)和绝缘体(3)之间的界面倾斜。通过各向异性刻蚀器件以便在器件的一个边缘制备倾斜的表面(7)或具有倾斜侧壁的等同的V形槽。然后,通过向倾斜侧壁内部的材料中扩散适当的施主或受主原子。制备基极和发射极区域(5,4)。这种双极型绝缘体上的半导体晶体管器件结合的横向半导体器件的高速特性和纵向半导体器件的高压特性。
搜索关键词: 具有 倾斜 pn 双极型 soi 器件 制造 这种 方法
【主权项】:
1.一种双极型绝缘体上半导体器件(1),包括位于绝缘体(3)上的半导体晶片(2)内的发射区(4)、基区(5)和集电区,特征在于基极-发射极结面和集电极-基极结面相对于半导体晶片(2)和绝缘体(3)之间的界面倾斜。
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