[发明专利]无损伤性近红外光谱仪的多光谱分析方法和装置无效
申请号: | 97193402.9 | 申请日: | 1997-01-31 |
公开(公告)号: | CN1101934C | 公开(公告)日: | 2003-02-19 |
发明(设计)人: | G·哈利勒;S·F·梅林 | 申请(专利权)人: | 量度测试设备股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/35 | 分类号: | G01N21/35;G01N21/31;A61B5/00 |
代理公司: | 上海专利商标事务所 | 代理人: | 张政权 |
地址: | 美国亚*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 描述了一种利用近红外光谱区的多光谱分析确定样品中存在的被分析物浓度的方法和装置。采用含有约1100至3500nm范围中多个不同不相重叠波长区的入射辐射对样品扫描。对样品的漫反射辐射进行检测,运用化学计量技术获得表示被分析物浓度的值。能够使每个不相重叠波长区所获得的信息互相关,以去除背景干扰。 | ||
搜索关键词: | 损伤 红外 光谱仪 光谱分析 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种确定样品中被分析物浓度的装置,其特征在于它包括:(a)将包含1100-3500nm光谱中多个不同不相重叠波长光谱区的入射辐射照射在样品上的装置;(b)收集来自样品的反射辐射并将所述反射辐射射入第一和第二光路的装置,这里,所述第一光路包括来自第一波长光谱区1100-1350nm的辐射;(c)设置在所述第一光路中的第一滤光片装置,这里,所述的第一滤光片装置能够让与被分析物浓度基本不相关的辐射有选择地通过;(d)接收有选择地通过所述第一滤光片装置的辐射并将所述有选择地通过所述第一滤光片装置的辐射转换为代表所述辐射强度的信号的第一检测装置;(e)设置在所述第二光路中的可调滤光片装置,这里,所述的可调滤光片装置使所述第二光路中辐射强度衰减;(f)能够接收经所述可调滤光片装置衰减的辐射并从中让一个或多个单独波长有选择地通过的主要被分析物滤光片装置,这里,所述的一个或多个单独波长与所述被分析物浓度具有特定相关性;(g)能够接收从所述主要被分析物滤光片装置出射的一个或多个单独波长并使每个单独波长的强度衰减的第二滤光片装置;(h)接收经所述第二滤光片装置衰减的单独波长并将被检测波长转换为代表所述波长强度的信号的第二检测装置。
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