[发明专利]测试集成电路器件的设备和方法无效
| 申请号： | 97193601.3 | 申请日： | 1997-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN1084878C | 公开（公告）日： | 2002-05-15 |
| 发明（设计）人： | T·L·豪林 | 申请（专利权）人： | 艾利森电话股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/319 | 分类号： | G01R31/319;G06F11/273;G11C29/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 王勇,李亚非 |
| 地址： | 瑞典斯*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于测试集成电路器件(12)的测试设备(10)及其相关方法。测试设备(10)能测试具有大量的由单端终端(16)或差分终端(20、22)形成的输入和输出终端的集成电路器件(12)。在集成电路器件(12)上可进行静态测试，即功能和参数两种测试。此外，通过操作测试设备(10)，即使集成电路器件在高频下操作，也能动态测试集成电路器件(12)。借助于信号轨线(54、56、58)把测试信号加到接受测试的器件(12)上。耦合一个测试信号响应指示器(78)以观测对测试信号的响应。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 集成电路 器件 设备 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测试具有多个终端的集成电路器件的测试设备，所说测试设备包括：一个电压信号发生器，用于产生具有所选电压电平的测试信号；一个信号轨线，用于相互连接所说电压信号发生器和集成电路器件多个终端的第一组终端中的至少所选终端，所说信号轨线用于向所选终端同时施加由所说电压信号发生器产生的测试信号；以及一个测试信号响应指示器，它耦合到集成电路器件多个终端的第二组终端中的所选终端，所说测试信号响应指示器用于指示响应于向终端施加的测试信号在终端产生的输出信号的数值。
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