[发明专利]等离子体腐蚀反应器和方法无效

专利信息
申请号: 97197274.5 申请日: 1997-01-23
公开(公告)号: CN1161824C 公开(公告)日: 2004-08-11
发明(设计)人: 斯蒂芬·P·德奥尼拉斯;莱斯利·G·杰德;艾尔弗德·科弗;罗伯特·C·韦尔;库尔特·A·奥尔森 申请(专利权)人: 泰格尔公司
主分类号: H01L21/302 分类号: H01L21/302
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 黄敏
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种等离子体腐蚀反应器(20)包括上电极(24)、下电极(28)、设置在其间的周边环电极(26)。上电极(24)接地,周边电极(26)由高频AC电源供电,而下电极(28)由低频AC电源和DC电源供电。反应室(22)构成有气体物质的固体源(50)和突出挡板(40)。喷嘴(36)提供处理气体的气流,以便保证处理气体在半导体晶片(48)表面的均匀性。等离子体腐蚀反应器(20)的构型增大了反应室(20)中的等离子体密度范围,通过调节多个电源(30、32)可以选择该范围。
搜索关键词: 等离子体 腐蚀 反应器 方法
【主权项】:
1.一种等离子体腐蚀反应器,用于腐蚀晶片,特别用于各向异性地腐蚀晶片上的特征,包括:反应室;第一电极;第二电极;其中,用第一电极和第二电极之间的处理气体产生等离子体;气体物质的固体源,用于钝化晶片上的垂直表面,以便提高各向异性腐蚀;其中所述固体源覆盖所述第一电极;高频电源,该高频电源与所述第一电极连接;以及控制器,用于控制由高频电源提供给所述第一电极的电能,以便控制该气体物质从固体源的生成率。
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