[发明专利]等离子体腐蚀反应器和方法无效
申请号: | 97197274.5 | 申请日: | 1997-01-23 |
公开(公告)号: | CN1161824C | 公开(公告)日: | 2004-08-11 |
发明(设计)人: | 斯蒂芬·P·德奥尼拉斯;莱斯利·G·杰德;艾尔弗德·科弗;罗伯特·C·韦尔;库尔特·A·奥尔森 | 申请(专利权)人: | 泰格尔公司 |
主分类号: | H01L21/302 | 分类号: | H01L21/302 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 黄敏 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种等离子体腐蚀反应器(20)包括上电极(24)、下电极(28)、设置在其间的周边环电极(26)。上电极(24)接地,周边电极(26)由高频AC电源供电,而下电极(28)由低频AC电源和DC电源供电。反应室(22)构成有气体物质的固体源(50)和突出挡板(40)。喷嘴(36)提供处理气体的气流,以便保证处理气体在半导体晶片(48)表面的均匀性。等离子体腐蚀反应器(20)的构型增大了反应室(20)中的等离子体密度范围,通过调节多个电源(30、32)可以选择该范围。 | ||
搜索关键词: | 等离子体 腐蚀 反应器 方法 | ||
【主权项】:
1.一种等离子体腐蚀反应器,用于腐蚀晶片,特别用于各向异性地腐蚀晶片上的特征,包括:反应室;第一电极;第二电极;其中,用第一电极和第二电极之间的处理气体产生等离子体;气体物质的固体源,用于钝化晶片上的垂直表面,以便提高各向异性腐蚀;其中所述固体源覆盖所述第一电极;高频电源,该高频电源与所述第一电极连接;以及控制器,用于控制由高频电源提供给所述第一电极的电能,以便控制该气体物质从固体源的生成率。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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