[发明专利]场效应晶体管无效

专利信息
申请号: 98100840.2 申请日: 1998-02-20
公开(公告)号: CN1155099C 公开(公告)日: 2004-06-23
发明(设计)人: 田边充 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H01L29/772 分类号: H01L29/772
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汪惠民
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 场效应晶体管是在铁掺杂的半绝缘性铟磷衬底上,顺次层叠由未掺杂铟0.520.48砷构成的第一缓冲层,具有未掺杂铟0.520.48砷和未掺杂铝0.250.75砷的超晶格结构的第二缓冲层,由未掺杂铟0.520.48砷构成的第三缓冲层,由未掺杂铟0.530.47砷构成的沟道层,由未掺杂铟0.520.48砷构成的间隔层,硅的δ掺杂层,未掺杂铟0.520.48砷构成的肖特基层。在肖特基层上形成具有凹槽结构的管底层。在管底层上形成源极电极以及漏极电极,管底层的凹槽区域形成栅极电极。
搜索关键词: 场效应 晶体管
【主权项】:
1.一种场效应晶体管,包括由铟磷或是镓砷构成的半绝缘性衬底,和在该半绝缘性衬底上形成的缓冲层,和在该缓冲层上形成的沟道层,其特征在于所述缓冲层是由铟铝砷构成第一层,由铝镓砷、铟镓磷或铝镓磷的三种元素混合晶体构成第二层的层叠体。
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