[发明专利]巨磁阻材料P-N结结构无效

专利信息
申请号: 98101982.X 申请日: 1998-05-26
公开(公告)号: CN1120530C 公开(公告)日: 2003-09-03
发明(设计)人: 戴守愚;周岳亮;吕惠宾;陈正豪;杨国桢 申请(专利权)人: 中国科学院物理研究所
主分类号: H01L43/00 分类号: H01L43/00;H01F1/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100080*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及巨磁阻材料P-N结结构。在单晶基底上制备一层N型或P型巨磁阻薄膜,然后再在上述薄膜上制备一层P型或N型巨磁阻材料薄膜,这样就制备成一个巨磁阻材料P-N结。包括在已经制备好的P-N结材料薄膜上制备另一层不同类型的巨磁阻材料薄膜就获得了P-N-P或N-P-N型巨磁阻材料三极管结构。交替制备P型与N型巨磁阻材料薄膜就获得了多层P-N结结构。P-N结或三极管结构或P-N结多层结构都对磁场相当敏感,其特性曲线是磁场的函数。
搜索关键词: 磁阻 材料 结构
【主权项】:
1.一种巨磁阻材料P-N结结构,其特征在于:包括在基片上淀积一层P型或N型巨磁阻材料,再在上述P型或N型巨磁阻材料上淀积一层N型或P型体巨磁阻材料,由P型和N型巨磁阻材料交替淀积组成,所述的N型巨磁阻材料包括La1-xSnxMnO3和La1-xTexMnO3,P型巨磁阻材料包括La1-xSrxMnO3和La1-xBaxMnO3,x取值范围为0.001到0.5。
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