[发明专利]铟镓氮单晶薄膜金属有机物气相外延生长技术有效

专利信息
申请号: 98103568.X 申请日: 1998-08-12
公开(公告)号: CN1062917C 公开(公告)日: 2001-03-07
发明(设计)人: 童玉珍;张国义 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: C30B23/02 分类号: C30B23/02
代理公司: 北京大学专利事务所 代理人: 余长江
地址: 10087*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明是一种MOCVD法制备高荧光效率的铟镓氮单晶薄膜的生长技术,在高温下生长铟镓氮单晶薄膜,同时进行Si和Zn共掺杂,实现高效蓝光发射。GaN和InGaN可在相同温度下生长;避免了在器件结构生长过程中的升降温过程,减少了生长工艺上的困难;简化了工艺;提高了生长的可控性和重复性;生长的InGaN材料发光强度强;具有高的生长速率,缩短了生长时间,从而提高了材料的利用率。可适用于含InGaN的光发射二极管和激光器等光电器件的制备技术领域。$#!
搜索关键词: 铟镓氮单晶 薄膜 金属 有机物 外延 生长 技术
【主权项】:
1.一种铟镓氮单晶薄膜金属有机物气相外延生长技术,采用ZL95101275.4MOCVD设备,高纯H2为载气,反应室的压力在整个生长过程中控制在0.1~0.5个大气压,其步骤包括:1)蓝宝石衬底装入反应室,在H2气氛下,1000℃以上处理10~20分钟;2)在510℃~550℃下生长一厚度为7~30nm的GaN缓冲层;3)在1030℃~1100℃的温度下生长一厚度为0.5~4μm的GaN层;4)在此GaN层上,在900℃~1100℃之间外延生长InGaN薄膜,生长InGaN的同时进行Si和Zn共掺杂;Zn的掺杂剂量在1.0~50μmol之间,Si的掺杂剂量在0.18~1.8nmol之间。
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