[发明专利]半导体集成电路的模拟方法和模拟系统无效
| 申请号： | 98105366.1 | 申请日： | 1998-02-26 |
| 公开（公告）号： | CN1151458C | 公开（公告）日： | 2004-05-26 |
| 发明（设计）人： | 铃木恭 | 申请（专利权）人： | NEC化合物半导体器件株式会社 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 叶恺东;王忠忠 |
| 地址： | 日本神奈*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种模拟半导体集成电路的方法，其中电路模拟结果考虑了相对变化。该方法根据规定的绝对和相对变化范围确定考虑到相对变化的元件参数可能的最大和最小值，即最坏情况的元件参数，从而形成变化模型。根据变化模型，考虑到相对变化以进行最坏情况模拟。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 集成电路 模拟 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.半导体集成电路的一种模拟方法，其特征在于，该方法包括下列步骤：数据输入步骤，输入元件参数的规定的绝对和相对变化范围；变化模型形成步骤，预先处理所述规定的绝对和相对变化范围，根据上述预先处理的绝对和相对变化范围确定元件参数可能的最大值和最小值，其中，最坏情况模拟的元件参数考虑相对变化，以形成变化模型；和电路模拟步骤，用考虑到相对变化的所述变化模型进行最坏情况模拟。
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