[发明专利]接触照像复制法生产荫罩版用的玻璃基板无效
申请号: | 98112942.0 | 申请日: | 1998-08-18 |
公开(公告)号: | CN1095593C | 公开(公告)日: | 2002-12-04 |
发明(设计)人: | 李金科;冯克勤 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
主分类号: | H01J29/07 | 分类号: | H01J29/07 |
代理公司: | 中国科学院西安专利中心 | 代理人: | 任越 |
地址: | 710068 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 以接触式照像复制法生产荫罩版用的玻璃基板,本发明以应力双折射方法测得的应力值表示基板强度,适用于生产的玻璃基板的应力值范围为100-200nm,并且是至少三点的极大应力值;使用本发明确定的玻璃基板具有无在线炸裂现象、研磨性能好、再生使用次数增加的优点,为玻璃基板的在线使用提供了无损的定量检测依据,能使荫罩版的生产成本降低。 | ||
搜索关键词: | 接触 复制 生产 荫罩版用 玻璃 | ||
【主权项】:
1、一种接触照象复制法生产荫罩版用的玻璃基板,使用时有包括强度等性能的检测,并采用有应力双折射的检测方法,其特征在于,所述的玻璃基板用应力双折射检测方法,以所测得的应力值表示基板的强度,其适用玻璃基板的应力值范围为100-200nm,并且其检测应至少取不在同一直线上的三点的极大应力值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院西安光学精密机械研究所,未经中国科学院西安光学精密机械研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/98112942.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。