[发明专利]插塞的制造方法有效
申请号: | 98115222.8 | 申请日: | 1998-06-24 |
公开(公告)号: | CN1115724C | 公开(公告)日: | 2003-07-23 |
发明(设计)人: | 何青原 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L21/28;H01L21/302 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 陶凤波 |
地址: | 台湾省新竹科*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种插塞的制造方法,包括下列步骤:首先提供基底,此基底上形成有介电层,介电层上形成有开口,开口暴露出基底上用来导通其它结构的区域。然后形成黏着层覆盖开口中用来导通其它结构的区域。接着形成插塞物质层于开口中,并且蚀刻插塞物质层以形成插塞,使插塞的高度约低于介电层,以及以对介电层比对该插塞物质层具有高选择比的蚀刻法蚀介电层,使介电层的高度约等于插塞。 | ||
搜索关键词: | 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种插塞的制造方法,包括下列步骤:提供一基底,该基底上形成有一介电层,其中该介电层上形成有一开口,并且该开口暴露出所述基底上一设置用来电性导通的区域;形成一黏着层,覆盖所述基底上的设置用来电性导通的区域,所述开口中介电层的侧壁,以及介电层;在开口中形成一插塞物质层,插塞物质层填满所述开口;回蚀插塞物质层,使开口中插塞物质层的高度低于介电层,借以形成插塞;以及蚀刻介电层,使该介电层的高度相当于插塞的高度。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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