[发明专利]插塞的制造方法有效

专利信息
申请号: 98115222.8 申请日: 1998-06-24
公开(公告)号: CN1115724C 公开(公告)日: 2003-07-23
发明(设计)人: 何青原 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L21/768 分类号: H01L21/768;H01L21/28;H01L21/302
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 陶凤波
地址: 台湾省新竹科*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种插塞的制造方法,包括下列步骤:首先提供基底,此基底上形成有介电层,介电层上形成有开口,开口暴露出基底上用来导通其它结构的区域。然后形成黏着层覆盖开口中用来导通其它结构的区域。接着形成插塞物质层于开口中,并且蚀刻插塞物质层以形成插塞,使插塞的高度约低于介电层,以及以对介电层比对该插塞物质层具有高选择比的蚀刻法蚀介电层,使介电层的高度约等于插塞。
搜索关键词: 制造 方法
【主权项】:
1.一种插塞的制造方法,包括下列步骤:提供一基底,该基底上形成有一介电层,其中该介电层上形成有一开口,并且该开口暴露出所述基底上一设置用来电性导通的区域;形成一黏着层,覆盖所述基底上的设置用来电性导通的区域,所述开口中介电层的侧壁,以及介电层;在开口中形成一插塞物质层,插塞物质层填满所述开口;回蚀插塞物质层,使开口中插塞物质层的高度低于介电层,借以形成插塞;以及蚀刻介电层,使该介电层的高度相当于插塞的高度。
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