[发明专利]有能将测试方式可靠复位的电路的同步型半导体存储装置

摘要

本发明的同步型半导体存储装置的复位信号发生电路，响应接通电源后立即产生的电源接通复位信号ZPOR及接通电源后为进行初始化而执行的初始化命令(例如，预充电命令)，输出复位信号ZPOR1。方式置位设定电路内包含的测试方式寄存器，接受该复位信号ZPOR1作为复位信号。因此，使所输出的测试方式信号变为NOP状态、或使测试方式信号的输出停止。

主权项

1.一种同步型半导体存储装置，其特征在于，备有：多个存储体，各自包含具有按行列状排列的多个存储单元的存储单元阵列和与上述存储单元阵列的行对应设置的多条字线；内部时钟发生装置，输出与外部时钟信号同步的内部时钟信号；供给装置，用于提供与上述内部时钟信号同步地将方式设定命令、外部信号、测试方式指定信号和使上述存储体初始化的初始化命令；正常方式设定装置，响应与上述内部时钟信号同步供给的上述方式设定命令和外部信号，输出指示规定动作方式已被指定的正常方式信号；测试方式设定装置，响应与上述内部时钟信号同步输入的上述方式设定命令和测试方式指定信号，检测规定测试方式被指定的情况，并输出作为检测结果的测试方式信号；及复位信号发生装置，接通电源后，响应与上述内部时钟信号同步供给的初始化命令，输出复位信号；上述测试方式设定装置，接受上述复位信号，并使至少一个上述测试方式信号变为非激活状态。