[发明专利]综合型电磁继电器高、低温寿命实验装置

摘要

本发明涉及一种综合型电磁继电器高、低温触点寿命试验装置,包括壳体,壳体内装有高、低温箱、老化板、线圈电源、负载电源、系统电源。还包括一个装有专用软件的主控计算机、下位机、线圈时序控制装置、二级负载电压装置、窗口比较和采样保持测量装置组成的控制监测电路,该电路将控制测量信号输出到老化板试品上,进行寿命试验,并有失误信号监测,可广泛应用于电磁继电器生产、使用厂、所。

主权项

1.一种综合型的电磁继电器高、低温触点寿命试验装置，包括壳体内装有高、低温试验箱、老化板、一级负载电源、线圈电源，其特征在于由一个控制监测电路控制至少一个置于高、低温试验箱环境中的老化板②，老化板装载有试品；该控制监测电路发生、输出继电器老化所需线圈时序信号、试品触点负载电源、触点粘、断压降监测测量时序信号，该控制监测电路具有一个安装有专用老化软件的主控计算机⑤，经通讯接口⑥连接一个由单片机组成的下位机④，该主控计算机⑤可将直流低电平负载切换和中等电流切换试验条件，线圈动作时序信号、测量时序信号编辑为老化信号、数据，传送到下位机④，下位机④至少连接一个线圈时序控制装置①、窗口比较、采样保持测量装置③、二级负载电源装置⑦；所述二级负载电源⑦在接到下位机④输出的电压程控信号后向老化板②馈送试品触点负载电压；所述线圈时序控制装置①接到下位机④单线圈、双线圈、磁保持线圈信号后发出驱动信号后给老化板②试品的线圈；所述窗口比较、采样保持测量装置③在接到下位机④时序测量信号时，开始对试品常闭常开触点进行监测，试品触点失误后失误信号，一路作故障锁存，另一路送采样保持和A/D电路，锁定失误电压；下位机④通过通讯接口⑥将该失误触点的工位号、已累计循环次数、已失误累计次数、失误时测量的电压数据，回送到主控计算机⑤。