[发明专利]带有冗余电路的半导体存储器无效
申请号: | 98117345.4 | 申请日: | 1998-08-19 |
公开(公告)号: | CN1208934A | 公开(公告)日: | 1999-02-24 |
发明(设计)人: | 伊佐聡 | 申请(专利权)人: | 日本电气株式会社 |
主分类号: | G11C11/407 | 分类号: | G11C11/407;G11C29/00 |
代理公司: | 中科专利代理有限责任公司 | 代理人: | 刘晓峰 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供了一种半导体存储器包括一个用于产生冗余选择信号的冗余地址编程电路,一个用于接收冗余电路检测模式信号的电路,当在对冗余地址编程电路进行编程之前对冗余存储单元进行检测时,该电路有效,并且当冗余电路检测模式信号有效时产生输入地址的部分地址位作为冗余存储单元的部分地址位,当该冗余电路检测模式信号无效时产生作为冗余存储单元地址的部分的冗余选择信号。 | ||
搜索关键词: | 带有 冗余 电路 半导体 存储器 | ||
【主权项】:
1、一种半导体存储器,其特征在于包括:多个冗余地址编程电路,该电路这样编程使得当用于选择有瑕疵的存储单元的地址输入时在冗余存储单元阵列中选中一个冗余存储单元,每个所述的冗余地址编程电路产生一个冗余选择信号,该信号在对应于每个所述的冗余地址编程电路的地址被输入时变为有效;一个用于接收冗余电路检测模式信号的控制电路,如果在所述冗余地址编程电路被编程之前检测冗余存储单元,则该冗余电路检测模式信号变为有效,当冗余电路检测模式信号处于有效状态时,该控制电路输出所输入地址的部分地址位,并作为所述冗余存储单元地址的部分地址位,当冗余电路检测模式信号处于无效状态时,该控制电路从所述冗余选择信号中产生作为所述冗余存储单元的地址的所述部分的信号。
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