[发明专利]光学扫描器的扫描光迹歪斜自动校正方法与装置无效

专利信息
申请号: 98117358.6 申请日: 1998-08-19
公开(公告)号: CN1102750C 公开(公告)日: 2003-03-05
发明(设计)人: 蔡振财;陈国丰 申请(专利权)人: 鸿友科技股份有限公司
主分类号: G02B26/10 分类号: G02B26/10
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 李强
地址: 台湾省新竹科学*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种光学扫描器的扫描光迹歪斜自动校正方法与装置,可自动校正因光机问题所造成的歪斜图像。该校正方法先在存储器中划分许多区段,依序储存不同区段的校正图素。图素的校正是依照图素的歪斜程度作判断,当图素的歪斜率大于一个图素的边长时,表示另一区段的开始。每一列的图素可依此分成许多区段。图素的校正是依照歪斜的面积比例计算后成为校正的面积。每当完成一列图素的校正后,便由存储器中依序输出校正的图素,依此方法反复执行,可完成整张图像的校正。
搜索关键词: 光学 扫描器 扫描 歪斜 自动 校正 方法 装置
【主权项】:
1.一种光学扫描器的扫描光迹歪斜自动校正方法,是在判定所扫描的图像为歪斜时,自动执行图像的校正,并输出校正后的图像,其特征在于:其包含步骤:a.执行座标指数,区段数,宽度的初始化;b.读取歪斜的扫描图像座标As(Xi,Yj)的图素;c.执行该歪斜的扫描图像座标As(Xi,Yj)的图素的歪斜率计算;d.判定该图素的歪斜率除以一个图素的边长的余数是否小于二分之一个图素的边长;e.当判定该图素的歪斜率除以一个图素的边长的余数小于二分之一个图素的边长时,执行第一校正面积计算,该面积计算公式为:[As(i,j)*(b2-a1-a4)/b2]+[As(i,j-1)*(a2/b2)]+[As(i+1,j)*(a3/b2)],其中As(i,j)表示歪斜的图像的座标,b表示图素的边长,a1表示该图素左边的校正面积,a2表示图素上方的校正面积,a3表示该图素右方的校正面积,a4表示该图素下方的校正面积;f.当判定该图素的歪斜率除以一个图素的边长的余数大于二分一个图素的边长时,执行第二校正面积计算,该面积的计算公式为:[As(i,j)*(a4/b2)]+[As(i,j+1)*(a3/b2)]十[A(i,j-1)*(a2/b2)],其中As(i,j)表示歪斜的图像的座标,b表示图素的边长,a3表示该图素右边的校正面积,a2表示图素上方的校正面积,a4表示该图素下方的校正面积;并将区段数增加一;g.依据该图素的区段储存该校正的图素;h.将横座标指数增加一,及纵座标指数增加一;执行步骤(b);及i.当判定完成一整列的图素的校正时,依据该图素的区段读取该校正的图素。
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