[发明专利]动态随机存取存储器单元及其形成方法无效

专利信息
申请号: 98119188.6 申请日: 1998-09-15
公开(公告)号: CN1167134C 公开(公告)日: 2004-09-15
发明(设计)人: 乌尔里克·格里宁;赫尔穆特·克洛斯;威尔弗里德·汉斯奇 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108;H01L21/8242
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 陶凤波
地址: 联邦德*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 一种DRAM单元,其存储电容器形成为沟槽形式,它的下部形成于n-型基底内,用电化学蚀刻在该部分的侧壁上提供大孔(31A)。孔壁上涂有一介电层(26B),沟槽中然后填充上掺杂多晶硅(24A)。这样可以得到具有非常大表面积和高电容的电容器。本发明还涉及这种DRAM的形成方法。
搜索关键词: 动态 随机存取存储器 单元 及其 形成 方法
【主权项】:
1.一种动态随机存取存储器单元,包括:一基底,它包括一n-型部分和一覆盖上述n-型部分的更轻度掺杂层,n-型部分中施主浓度在1016/cm3至1018/cm3之间;一场效应晶体管,其通道和电流终端区域位于轻度掺杂层内;和一存储电容器,它包括一穿过轻度掺杂层进入n-型基底的介电隔离垂直槽,所述槽具有沿轻度掺杂部分的相对光滑的侧壁,该槽还具有在n-型部分之内的扩大了表面积的宏观孔部分,沟槽中填充有n-型多晶硅。
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