[发明专利]半导体装置

摘要

本发明涉及半导体装置，在设有RAM电路和ROM电路的混载芯片中，若输入选择双方的选择信号，控制电路使控制信号REB为“1”，试验模式信号TSTB为“0”，RAM启动信号RAMEB及ROM启动信号ROMEB为“1”，成为试验模式，用于输出数据信号的外部端子成为备用状态，RAM电路和ROM电路都成为非选择状态。不用设置试验模式设定专用端子和高电压检测电路，就能设定试验模式，且能避免因误设定试验模式而产生的不合适状况。

主权项

1.一种半导体装置，作为动作模式包括进行正常动作的通常模式以及实施试验的试验模式，其特征在于，设有：试验模式设定装置，组合应供给通常模式使用的所定复数端子的信号，使通常模式中正常动作时不会出现的所定组合信号供给该复数端子，将动作模式设定为试验模式；动作控制装置，若由试验模式设定装置设定试验模式，则成为耗费电流几乎为零的备用状态；输出控制装置，由试验模式设定装置设定试验模式，该输出控制装置使输出端子为高阻抗状态或逻辑电平被固定状态；设有排它地被选择使用的复数电路；上述复数端子是用于输入选择上述各复数电路信号的端子；若同时选择上述复数电路之中至少两电路的组合信号供给上述复数端子，上述试验模式设定装置将端子模式设定为试验模式。