[发明专利]集成电路芯片测试器及其测试方法无效
| 申请号： | 98119970.4 | 申请日： | 1998-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN1211737A | 公开（公告）日： | 1999-03-24 |
| 发明（设计）人： | 朴相坤 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人： | 马莹 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种使用由许多测试向量组成的测试数据来测试IC芯片的测试器及测试方法。该测试器有管脚存储器、定序器存储器和驱动部分。管脚存储器存储了许多数据块。每个测试块是一个或多个测试向量的组合并且在测试数据中至少重复一次。定序器存储器存储有关用于恢复测试数据的测试块指定顺序的信息。驱动部分驱动管脚存储器,以便根据定序器存储器中的指定顺序连续输出管脚存储器的测试块。该测试器不需要额外的CPU,而且其编程也简单。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 芯片 测试 及其 方法 | ||
【主权项】：
1．一种使用由若干测试向量构成的测试数据测试集成电路(IC)芯片的测试器，该测试器包括：一管脚存储器，用于存储若干测试块，每个测试块是测试向量中至少一个测试向量的组合并且在测试数据中至少重复一次；一定序器存储器，用于存储有关用于恢复该测试数据的测试块的指定顺序的信息；以及一驱动部分，用于驱动管脚存储器，以便于根据存在定序器存储器中的指定顺序，连续地输出存在管脚存储器中的测试块。
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