[发明专利]检验集成电路引线的设备和方法无效
| 申请号： | 98119972.0 | 申请日： | 1998-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN1125344C | 公开（公告）日： | 2003-10-22 |
| 发明（设计）人： | 马延守 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G01R1/06 | 分类号： | G01R1/06;H01L21/66 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 李晓舒 |
| 地址： | 暂无信息 | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种检验放置在固定台上的IC引线的设备和方法，该设备包括：一扫描该固定台的光学图像识别单元；一相对于固定台移动识别单元的装置；根据其中输出信号检测识别单元位置的位置检测单元；和根据位置检测单元的信号控制该装置的控制单元，以便将识别单元定位在固定台上方的最佳位置。在短时间内自动检验IC引线的排列和状态，增加了生产率。 | ||
| 搜索关键词： | 检验 集成电路 引线 设备 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于检验IC引线的设备，所述设备包括：一固定台，所述IC放置在该固定台上；一配置在所述固定台上方的光学图像识别单元，所述光学图像识别单元包括：一束光源，用于向所述固定台投射一扫描束；和一个检测元件，设置在所述光源旁边，用于接收从所述固定台的反射光；用于相对于所述固定台移动所述光学图像识别单元的驱动装置，以扫描多个引线；用于根据所述光学图像识别单元的输出信号，检测所述光学图像识别单元的位置的位置检测单元，设置在所述固定台之上；和用于根据所述位置检测单元的检测信号控制所述驱动装置的控制单元，使得所述光学图像识别单元被定位在所述固定台上方的最佳位置，从而检测元件在扫描期间接收到的反射光提供所述IC的最佳信号图像，该图象代表获得最佳位置时引线的形状；将代表引线正常形状的基准数据与最佳信号图像进行比较的比较单元。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社，未经三星电子株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/98119972.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
