[发明专利]电容器的下电极和电容器的制造方法有效
申请号: | 98123035.0 | 申请日: | 1998-12-01 |
公开(公告)号: | CN1148787C | 公开(公告)日: | 2004-05-05 |
发明(设计)人: | 罗吉进 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/28 | 分类号: | H01L21/28;H01L21/8242 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 陶凤波 |
地址: | 台湾省新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种电容器的下电极的制造方法包括:在基底上形成绝缘层;限定绝缘层以形成接触窗开口,接触窗开口暴露出基底;在接触窗开口中及绝缘层上形成掺杂多晶硅层;在掺杂多晶硅层上方形成第一非晶硅层;限定掺杂多晶硅层和第一非晶硅层,以形成混合结构;在混合结构和绝缘层上方形成一第二非晶硅层;蚀刻第二非晶硅层,以在混合结构侧壁形成侧壁间隔层;以及在第一非晶硅层上方及沿着该侧壁间隔层形成半球形硅晶粒层。本发明还涉及电容器的制造方法。 | ||
搜索关键词: | 电容器 电极 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种电容器的下电极的制造方法,适用于一基底,该方法包括:在该基底上形成一绝缘层;限定该绝缘层,以形成一接触窗开口,该接触窗开口暴露出该基底;在该接触窗开口中及该绝缘层上形成一掺杂多晶硅层;在该掺杂多晶硅层上方形成一第一非晶硅层;限定该掺杂多晶硅层和该第一非晶硅层,以形成一混合结构,该混合结构为对应于该接触窗开口上方的该掺杂多晶硅层和该第一非晶硅层所组成;在该混合结构和该绝缘层上方形成一第二非晶硅层;蚀刻该第二非晶硅层,以在该混合结构侧壁形成一侧壁间隔层;在该第一非晶硅层上方及沿着该侧壁间隔层形成一半球形硅晶粒层;以及提供一热处理工艺,以使该掺杂多晶硅层的杂质扩散到该半球形硅晶粒层,该第一非晶硅层和该侧壁间隔层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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