[发明专利]磁卡处理装置及磁卡处理方法无效

专利信息
申请号: 98124234.0 申请日: 1998-11-13
公开(公告)号: CN1158628C 公开(公告)日: 2004-07-21
发明(设计)人: 深泽一夫 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: G06K13/00 分类号: G06K13/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 于静
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种能够防止磁卡的伪造、篡改的磁卡处理装置及磁卡处理方法。传送层叠有磁介质层的传送装置上设置第1及第2磁记录装置和检验装置,其中该磁介质层包含有通过施加磁场可以可逆地改变状态的第1磁性体和一旦施加磁场则其与施加磁场前相比保持力发生很大变化且磁性体变化成大致非可逆状态的第2磁性体。
搜索关键词: 磁卡 处理 装置 方法
【主权项】:
1.一种磁卡处理装置,用于处理层叠有磁介质层的磁卡,其特征在于,具有:传送层叠有磁介质层的磁卡的传送装置,其中磁介质层包括通过施加磁场可以可逆地重复改变状态的第1磁性体,和与加磁场前相比,一旦施加磁场则其保持力发生很大变化,磁性体变化成大致为非可逆状态的第2磁性体;第1磁记录装置,该装置设置在上述传送装置上,用于为改变上述磁介质层中的上述第1及第2磁性体的状态,通过施加磁场对上述磁卡的磁介质层按第1方位角记录数据以记录第1数据;第2磁记录装置,该装置设置在上述传送装置上,并且相对于上述磁卡的传送方向设置在上述第1磁记录装置的后段,用于为改变用上述第1磁记录装置所记录的上述磁卡上的同一磁介质层中的上述第1磁性体的状态,通过施加磁场按与第1方位角不同的第2方位角记录数据以记录第2数据;检验磁头,该装置设置在上述传送装置上,且相对于上述磁卡的传送方向设置在上述第2磁记录装置的后段,并相对于上述磁卡,读取利用上述第1磁记录装置按第1方位角记录的第1数据和利用上述第2磁记录装置按第2方位角记录的第2数据;判断装置,该装置根据利用上述检验磁头读取的数据,判断由上述第1及第2磁记录装置所记录的第1及第2数据是否被正确地记录下来。
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