[发明专利]非接触非侵入式测量方法及测量装置

摘要

一种物理量测量装置,预先记录表示测量部分的图形与测量装置(10)之间的距离,在非接触状态下将被测物体(9)安排在规定的空间内;调整探头(2)的位置,使由距离测量装置(6)到测量部分的距离达到预先记录的距离;在改变取向的同时,取向确定机构(8)以光束照射测量部分,以确定透过测量部分最大光量的取向。这之后物理量测量装置(10)以测量光照射测量部分,并检测从测量部分输出的光,以得到物理量。

主权项

1．一种通过预先记录图形并确定物理量测量装置(10)的位置和取向进行测量的非接触非侵入式测量方法，所述图形表示测量部分、所述测量部分与所述物理量测量装置(10)之间的距离，以及所述物理量测量装置(10)在测量时相对所述测量部分的取向，所述方法包括以下步骤：(A)在非接触状态下将被测物体(9)布置在规定的空间，同时将定位机构(4)安排在探头(2)的检测位置，以由所述定位机构(4)检测预先记录的测量部分的图形，并调整探头(2)位置，使被检测的所述图形的位置与所记录的图形位置吻合；(B)将距离测量机构(6)调整在所述探头(2)的检测位置上，并调整所述探头(2)位置，使得所述测量部分的距离达到所述预先记录的距离；(C)将取向确定机构(8)调整在所述探头(2)的检测位置，并将检测位置确定为所述测量部分处于所述预先记录的取向上；(D)在将所述物理量测量装置(10)调整在所述探头(2)的检测位置之后，移动该装置至由所述取向确定机构(8)确定的位置，再以来自所述物理量测量装置(10)的测量光照射所述测量部分，并检测从所述测量部分输出的光之后，得到物理量。