[发明专利]键盘测试装置无效

专利信息
申请号: 98125389.X 申请日: 1998-12-18
公开(公告)号: CN1133114C 公开(公告)日: 2003-12-31
发明(设计)人: 范成青 申请(专利权)人: 英群企业股份有限公司
主分类号: G06F3/023 分类号: G06F3/023
代理公司: 上海专利商标事务所 代理人: 章蔚强
地址: 台湾省台北*** 国省代码: 台湾;71
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 一种键盘测试装置,它包括一对夹持元件及至少一定位装置;一灯号测试装置,用以测试该键盘中之灯号显示状态;一压按测试装置,具有系列伸缩压按元件,以该动作杆末端接触于待测键盘之按键,以伸缩动作压按按键,并以一位移机构来带动该压按测试装置平移,以依序移动压按所有的按键,再由一键盘信号连结装置,连结该按键压按信号至一判读控制机构,以判读灯号及按键压按信号是否正确,并由一警示装置于异常时发出警讯,以构成一自动测试键盘之装置。
搜索关键词: 键盘 测试 装置
【主权项】:
1.一种键盘测试装置,其特征在于,它包含:一对夹持元件,它分置于两端,该两夹持元件间可供容置待测键盘;一定位装置,它用以夹置固定该置于夹持元件上的待测键盘;一灯号测试装置,设于两夹持元件间之适当位置,具有若干个光感测器,以由光感测器感测该待测键盘的显示灯是否显示正常;一压按测试装置,它包括有若干系列伸缩压按元件,每一伸缩压按元件具有一动作杆,可受该伸缩压按元件驱动作伸或缩之动作,该动作杆末端则抵触于该待测键盘之按键上,以配合该动作杆之伸或缩之动作来压按测试该待测键盘之按键;一位移机构,它具有一移动轨道,与该待测键盘平行,并得作反复往、返之动作,并供该压按测试装置连结,以使该压按测试装置得以沿待测键盘逐一平行位移,以使该压按测试装置之每一压按元件之动作杆末端之压按元件,得以逐一对待测试键盘之每一按键作压按测试;一键盘信号连结装置,它用以连结上述待测键盘之信号线缆,以检出其按键压按信号;一判断控制机构,它接受该灯号测试装置之待测键盘显示灯测试信号及键盘信号连结装置之按键压按测试信号,以判读该待测键盘之显示灯及按键压按是否动作正常;一警示装置,它受判读控制机构之驱动,以作该待测键盘之显示灯及按键动作判读异常之警示。
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