[发明专利]键盘测试系统无效
申请号: | 98126431.X | 申请日: | 1998-12-17 |
公开(公告)号: | CN1257241A | 公开(公告)日: | 2000-06-21 |
发明(设计)人: | 郭历优 | 申请(专利权)人: | 英群企业股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/023 | 分类号: | G06F3/023 |
代理公司: | 上海专利商标事务所 | 代理人: | 潘帼萍 |
地址: | 台湾省台北*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明数据一种键盘测试系统,用作电子设备的键盘功能测试,其特点是包括一测试装置,其预设键盘测试的微处理器、显示灯及按键压按等测试参数、比对判读测试结果、错误警示及储存测试数据的功能;一灯号感测器,以测试LED显示功能;一按键按测试机构;一横轴移位驱动机构,以驱动按键测试机构作横轴位移;一警示装置,其在测试结果有异常或故障状态下,发出警示信号,并由测试装置记录储存其测试结果。 | ||
搜索关键词: | 键盘 测试 系统 | ||
【主权项】:
1.一种键盘测试系统,用以作电子设备的键盘功能测试,其特征在于包括:一测试装置,其具有预设键盘测试的微处理器、显示灯及按键压按等测试参数、比对判读测试结果、错误警示及储存测试数据之功能,并与上述键盘作电气连接,以接收该待测键盘的微处理器信号及每一按键的压按信号加以测试比对;一灯号感测器,用以测试上述待测键盘的LED显示灯号显示功能,并将测试结果送至上述测试装置判读;一按键按测试机构,以接触方式压按测试待测键盘中的按键压按功能,并将测试结果送入测试装置;一横轴移位驱动机构,其受测试装置控制,以驱动该按键测试机构作横轴位移,以使该按键压按测试机构作横轴位移,从而使上述待测键盘的每一按键均可作压按测试,以及;一警示装置,其受测试装置的驱动,在该待测键盘的处理器、LED显示灯号测试及按键压按测试结果有异常、故障状态下,发出警示信号。
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