[实用新型]印迹比对仪无效
| 申请号： | 98201294.2 | 申请日： | 1998-02-23 |
| 公开（公告）号： | CN2337612Y | 公开（公告）日： | 1999-09-08 |
| 发明（设计）人： | 王放明;王建平 | 申请（专利权）人： | 王放明;王建平 |
| 主分类号： | G06K9/00 | 分类号： | G06K9/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100038 北京市西*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型是一种光学比对仪，特别是一种印迹比对仪。本实用新型用来对不同客体上的印迹进行重叠比对，如对印章、指纹等进行比对以作同一认定。本实用新型由半透镜1、反射镜2、壳体3、观察窗4、印迹稿窗口10、压板5、灯泡6、调光器7、开关8、指示灯9等组成。本实用新型新型结构简单，光路设计巧妙，体积小，重量轻，成本低，操作方便，可靠性极高，能广泛地适用于银行印章防伪、公安司法部门作物证鉴定之用。 | ||
| 搜索关键词： | 印迹 | ||
【主权项】：
1．一种由半透镜(1)、反射镜(2)、壳体(3)、观察窗口(4)、压板(5)、灯泡(6)、调光器(7)、开关(8)、指示灯(9)、两个印迹稿窗口(10)组成的印迹比对仪，其特征是：半透镜(1)和反射镜(2)互为垂直设置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于王放明;王建平，未经王放明;王建平许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/98201294.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：分离式高空插接开关定位装置
- 下一篇：低噪声净化电源
