[实用新型]可降低漏电流的CMOS图像感测器无效

专利信息
申请号: 98207554.5 申请日: 1998-07-27
公开(公告)号: CN2354239Y 公开(公告)日: 1999-12-15
发明(设计)人: 李深地;沈奇廷;陈琪芬;傅健益;陈昭荣;陈维忠 申请(专利权)人: 敦南科技股份有限公司
主分类号: H01L23/00 分类号: H01L23/00
代理公司: 北京三友专利代理有限责任公司 代理人: 李强
地址: 台湾省台北市松*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种可降低漏电流的CMOS图像感测器,包括有P-N接面感测区、场氧化层及基底。基底上形成有P-N接面感测区、场氧化层,场氧化层边缘与P-N接面感测区之间有一既定距离。因P-N接面感测区不会与氧化层边缘的鸟嘴接触到,不会造成漏电途径,有效地减少白点、亮线、暗点或暗线,提高成品合格率。
搜索关键词: 降低 漏电 cmos 图像 感测器
【主权项】:
1、一种可降低漏电流的CMOS图像感测器,包括有一基底、P-N接面感测区及至少一场氧化物,其特征在于:基底上形成有P-N接面感测区,在P-N接面感测区至少一侧形成有场氧化物,P-N接面感测区与场氧化层之间有一距离。
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