[发明专利]互补金属氧化物半导体集成电路有效
申请号: | 98800117.9 | 申请日: | 1998-02-26 |
公开(公告)号: | CN1124689C | 公开(公告)日: | 2003-10-15 |
发明(设计)人: | 冈安俊幸 | 申请(专利权)人: | 株式会社爱德万测试 |
主分类号: | H03K19/0185 | 分类号: | H03K19/0185;H03F3/16 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 马莹 |
地址: | 暂无信息 | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种CMOS结构的超大规模集成电路,可不受配线电容、门输入电容的影响而高速工作。把电流输出型门用作发送侧门11,且只在信号的跃迁期间使电容器54充放电,其电流经电流密勒电路55、56放大后流过导通电路15。接收侧门31是低输入阻抗电流输入型门。该门31的结构为:将CMOS反相器35的输入输出端短路连接,其两个电源连接端分别通过p沟道MOSFET电流密勒电路37、39和n沟道MOSFET电流密勒电路38、41而连接在正和负的电源端子16及17上,两个电流密勒电路的输出侧连接在导电通路15上。 | ||
搜索关键词: | 互补 金属 氧化物 半导体 集成电路 | ||
【主权项】:
1.一种CMOS集成电路,其特征在于包括:信号传送通路(15),位于所述的CMOS集成电路中,所述的信号传输路径具有阻抗;以及电流输入型门(31),位于所述的CMOS集成电路中,所述的电流输入型门具有耦合到所述的信号传送通路的输入端(36),用于通过所述的输入端来接收输入电流,并且根据输入电流的大小产生输出电压,所述的电流输入型门(31)包括:第一电流镜像电路(37,39),由多个p沟道MOSFET构成,并连接到正电源电压端;第二电流镜像电路(38,41),由多个n沟道MOSFET构成,并连接到负电源电压端;n沟道MOSFET(44),串联插入在所述的输入端(36)与所述的第一电流镜像电路的输入之间;以及p沟道MOSFET(45),串联插入在所述的输入端(36)与所述的第二电流镜像电路的输入之间,并且其中,正电源电压与负电源电压之间的中点电位被施加到所述的p沟道MOSFET(45)的栅极和所述的n沟道MOSFET(44)的栅极。
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