[发明专利]智能射频装置及其读取数据的方法无效
申请号: | 98802301.6 | 申请日: | 1998-01-22 |
公开(公告)号: | CN1161724C | 公开(公告)日: | 2004-08-11 |
发明(设计)人: | 约翰·H·鲍尔斯;约翰·纳尔逊·戴格尔;拉德·彼得罗维奇 | 申请(专利权)人: | 检查点系统有限公司 |
主分类号: | G08B13/14 | 分类号: | G08B13/14 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 韩宏 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 读取置于询问天线(26)场中多个RFID标签(10)的一种方法,它依靠这些标签周期性地发射信号,发射期之间有很长的间歇期。对于一个给定的标签该间歇期的长度是固定的,但对不同的标签来说则是随机的,其原因是制造标签的电子元件存在制造公差,从而不需要询问天线的发射配合。 | ||
搜索关键词: | 智能 射频 装置 及其 读取 数据 方法 | ||
【主权项】:
1.一种方法,用于从一个询问区内的多个智能射频装置里读取数据,包括以下步骤:询问装置发射基本上连续的询问信号,该询问信号包括频率为第一预定射频的电磁场,该电磁场的强度限定了询问区;置于询问区内的多个智能射频装置受到电磁场的作用,该电磁场在每一个智能装置上感应出一个电压,该电压为上述智能装置供电;询问区内的多个智能装置中的每一个读取预先存储的相应数据段,并在预定的周期性时间段里以第二预定射频重复发射存储在其中的信息,发射期之间都有时间长度固定的一个间歇期,其中间歇期的长度远长于信息发射期,各智能装置的间歇期的长度不同仅仅是因为这些智能装置的电子元件具有制造公差;和该询问装置读取每一个智能装置发射的信息,由于各个不同的智能装置的长度固定的间歇期的长度互不相同,而且间歇期远长于信息发射期,因此显著地降低了两个或更多智能装置同时发射它们各自的信息的可能性,并且其中的制造公差足够大,使得长度固定的间歇期在不同的智能装置之间有显著的差别,从而显著地降低了两个或多个智能装置同时发射它们的相应信息的可能性。
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