[发明专利]在双锟带材连铸装置中控制带材厚度的装置及其方法无效

专利信息
申请号: 98802807.7 申请日: 1998-12-23
公开(公告)号: CN1096321C 公开(公告)日: 2002-12-18
发明(设计)人: 金伦夏;李熙呈;李大成 申请(专利权)人: 浦项综合制铁株式会社;浦项产业科学研究院
主分类号: B22D11/06 分类号: B22D11/06;B22D11/10
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 朱登河,顾红霞
地址: 韩国庆尚*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种用于在有一个固定辊和一个水平可移动辊的双辊带材连铸装置中控制带材厚度的方法,这种方法包括步骤测量固定辊和水平可移动辊的辊颈的位移值Gj(θ)和辊身的位移值Gg(θ+π);由位移值Gj(θ)和Gg(θ+π)预报固定辊的最近点(rollnip)的位移值Mfcr(θ)和可移动辊的最近点的位移值Mmcr(θ);计算位移值Mfcr(θ)和Mmcr(θ)之间的差值,得到固定辊和可移动辊之间的辊缝的变化量Mdiff(θ);和把辊缝变化量Mdiff(θ)减到最小来控制带材厚度。
搜索关键词: 双锟带材连铸 装置 控制 厚度 及其 方法
【主权项】:
1.一种在有一个固定辊和一个水平可移动辊的双辊带材连铸装置中控制带材厚度的方法,所述方法包括下列步骤:测量所述固定辊和水平可移动辊的辊颈的位移值Gj(θ)和所述辊的辊身的位移值Gg(θ+π);根据所述位移值Gj(θ)和Gg(θ+π)预报所述固定辊的最近点(rollnip)的位移值Mfcr(θ)和所述水平可移动辊的最近点(rollnip)的位移值Mmcr(θ);计算所述位移值Mfcr(θ)和Mmcr(θ)之间的差值,得到所述固定辊和水平可移动辊的最近点之间的间隙的变化量Mdiff(θ);和通过把辊的最近点之间的间隙变化量Mdiff(θ)减到最小来控制带材厚度。
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