[发明专利]超高频反射计装置及其方法和装有它的微波炉无效

专利信息
申请号: 98809143.7 申请日: 1998-07-13
公开(公告)号: CN1135394C 公开(公告)日: 2004-01-21
发明(设计)人: M·勒罗伊;S·卡约;J·-P·莫里佐 申请(专利权)人: 西布公司
主分类号: G01R27/32 分类号: G01R27/32;H05B6/80;G01R27/04
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 王勇;王忠忠
地址: 法国*** 国省代码: 法国;FR
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摘要: 发明涉及用于监测微波炉阻抗变化的超高频反射计装置。该装置包括一个具有穿到所述波导(100)中的并用微波带状线(13)连接的两个天线的功率定向耦合器(10)和包括多个耦合线的多端口耦合器。该多端口耦合器与功率定向耦合器(10)协同工作,用于输出关于来自加热箱的反射波相对磁控管发射的入射波的相位的信息。这两个天线之间的距离选择得小于磁控管发射的波长的四分之一。它可应用在家用及专业的微波炉中。
搜索关键词: 超高频 反射 装置 及其 方法 装有 微波炉
【主权项】:
1.用于监测微波炉(60)的阻抗变化的超高频反射计装置,该微波炉包括一个发射预定波长(λ)的电磁波的磁控管(61)及一个波导(100),后者将来自磁控管(61)的波导向一个加热或烹饪箱(63),该装置包括一个具有设在所述波导(100)中的并用导体带或微波带状线(13,43)连接的两个天线(23,22)的功率定向耦合器(10),其特征在于:这两个天线(23,22)之间的距离(L)选择得小于磁控管(61)发射的波长(λ)的四分之一。
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