[发明专利]用来对零件进行尺寸和/或形状检验的光电子装置

摘要

一种对零件，尤其是有复杂三维空间形状、有至少两个能形成平面状表面的翼状片且作为硬盘存储器读/写磁头的支承件的零件作尺寸形状检验的光电子装置包括：有两个与滑动件相连的导向件的底座，滑动件沿导向件纵向移动；对待检零件进行锁定和提供基准面的系统。该系统包括基准面，以与待检零件贴合表面协作以将零件设置成使翼状片的平面状表面基本位于与纵向平行的平面上。滑动件支承旋转台，光电子测量系统用支承件固定其上。旋转台绕一平行导向件轴线的旋转运动可使光电子测量系统基本在一垂直于轴线的平面内摆动以在检验过程中使光电子测量系统的构件和零件之间的相互位置最优化。只要更换装置中的部分构件就可检验具有不同旋转和标称尺寸的零件。

主权项

1.一种用来对具有多个基本平面状且相互平行的表面的零件(33，47，63)进行尺寸和/或形状检验的光电子装置，所述光电子装置包括：·一底座(1)；·一用于待检零件(33，47，63)的锁定和提供基准面系统(31，31′，31″)；·具有一光电子系统(75，77)的检测装置，用来提供一些能反映待检零件尺寸的信号；·一用于纵向移动的系统(3)，它与底座(1)相连，并形成一纵轴；·一旋转结构(13)，它固定于由所述纵向移动系统(3)和由所述底座(1)所形成的两不同构件的其中之一，所述锁定和提供基准面系统(31，31’，31″)以及光电子系统(75，77)的其中之一固定于所述旋转结构(13)，而剩下的另一系统则固定于由所述纵向移动系统(3)和由所述底座(1)所形成的两不同构件的其中之一，从而可以在所述零件(33，47，63)和所述光电子系统(75，77)之间作往复的纵向平动和围绕所述纵轴作往复的旋转移动，光电子系统(75，77)可以在所述往复的旋转移动过程中发出一些所述信号，其特征在于，零件(33，47，63)具有复杂的三维空间形状，并且具有至少两个形成所述平面状表面的翼状片(36)，所述锁定和提供基准面系统(31，31′，31″)包括用来与待检零件(33，47，63)的贴合表面(41；54；76；83)相协作的基准表面(38；55；70；80)，以对零件(33，47，63)的设置情况进行确定，从而使所述多个平面状表面基本上位于与所述纵轴平行的各平面上，所述光电子系统(75，77)适于在所述往复旋转移动过程中提供一些能反映翼状片(36)位置的信号。