[发明专利]确定记录头浮动高度的测量系统无效
| 申请号： | 98813624.4 | 申请日： | 1998-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN1146718C | 公开（公告）日： | 2004-04-21 |
| 发明（设计）人： | J·E·德宁;E·C·盖奇;G·S·莫里 | 申请（专利权）人： | 西加特技术有限责任公司 |
| 主分类号： | G01B11/14 | 分类号： | G01B11/14 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所 | 代理人： | 徐泰 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明以用于测量在存储盘片(112)上方的滑块(104)的浮动高度的浮动高度测量系统为特征。浮动高度测量系统包括光源(100)、滑块(104)、检测器模件(106)和处理器(108)。光源(100)产生沿光路的光。滑块(104)包括物镜，它如此设置，从而使来自所述光源的光射在物镜(124)上，并且把它引向盘片(112)的表面(110)。把从盘片(112)传播来的光引至检测器(106)。处理器(108)根据检测器模件输出估算滑块(104)的浮动高度。 | ||
| 搜索关键词： | 确定 记录 浮动 高度 测量 系统 | ||
【主权项】：
1.一种用于测量在存储盘片上方的滑块的浮动高度的浮动高度测量系统，其特征在于，所述系统包括：光源，它产生沿光路的光；滑块，它包括物镜和固体浸没透镜，其中放置物镜使得来自光源的光射在物镜上，并把它引向固体浸没透镜且通过近场耦合至盘片表面；检测器模件，用于接收从盘片反射的光；以及处理器，用于根据检测器模件输出估算滑块的浮动高度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西加特技术有限责任公司，未经西加特技术有限责任公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/98813624.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：共焦干涉显微镜的背景补偿
- 下一篇：科里奥利质量流量计
