[发明专利]用于检测数字半导体电路装置的测试电路和方法有效
| 申请号： | 98813625.2 | 申请日： | 1998-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN1133173C | 公开（公告）日： | 2003-12-31 |
| 发明（设计）人： | D·萨维格纳克;W·尼库塔;M·昆德;J·滕布勒克 | 申请（专利权）人： | 因芬尼昂技术股份公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 马铁良,张志醒 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明涉及一种单片集成测试电路，用于检测在同一半导体芯片上构成的数字半导体电路装置，其中有多个待测试元件，一个检测数据样本寄存器(1)，用于缓冲存储检测数据样本，一个读出电路和写入电路，用于向和从待测元件进行检测数据样本的写入和读出，还有一个比较电路(6)，用于检测在待测试元件中写入和读出的数据的差值。测试电路备有一个可以利用一个激活信号(3)激活的样本改变电路(2)，该电路在写入待测试元件之前改变来自检测数据样本寄存器中的检测数据样本。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 数字 半导体 电路 装置 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.单片集成测试电路，用于检测一个在同一半导体芯片上构成的数字半导体电路装置，其中有多个待测试的元件、一个用于缓冲存储检测数据样本的检测数据样本寄存器(1)、一个读出和写入电路，用于向待测试元件中写入和从待测试元件中读出检测数据样本寄存器(1)的数据，还有一个比较电路(6)，用于检测写入待测试元件中的数据和从待测试元件中读出的数据的差值，其特征在于，该测试电路具有一个可通过一个激活信号(3)激活的样本改变电路(2)，该样本改变电路在输入端侧与检测数据样本寄存器(1)及一个用于激活信号(3)的输入端相连并在输出端侧与比较电路(6)相连并且该样本改变电路在出自检测数据样本寄存器的检测数据样本写入待测试元件之前改变该检测数据样本。
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