[发明专利]半导体集成电路

摘要

在有多个实现预定功能的集成电路块的半导体集成电路中，高效率地进行集成电路块的全部功能动作测试，并且可抑制常规模式时和测试模式时的电路动作速度的下降。在集成电路块的第一输出端和集成电路块的第一输入端之间仅插入用于信号选择的多路转换器，在集成电路块的第二输出端和集成电路块的第二输入端之间仅插入多路转换器，所以可以降低信号延迟。此外，在触发电路之间仅插入多路转换器，因而可以减少信号延迟。

主权项

1.一种半导体集成电路，配有测试用附加装置，该测试用附加装置将构成输入电路的第一集成电路块、由预定功能块构成的第二集成电路块和构成输出电路的第三集成电路块相关连接，用于进行所述第二集成电路块的功能动作测试，其特征在于，仅在所述第二集成电路块的输入侧插入所述测试用附加装置，所述第二和所述第三集成电路块间仅用布线直接连接，所述半导体集成电路的结构为：在常规动作模式中，在所述第一集成电路块的第一输出端和所述第二集成电路块的第一输入端，以及所述第一集成电路块的第二输出端和所述第二集成电路块的第二输入端间的各信号传送路径上，各自仅插入一个用于输入信号选择的多路转换器，在采用所述测试用附加装置的测试模式中，进行所述第二集成电路块的测试用信号输入时和测试结果输出时的信号存入，将与该集成电路块的输入端数对应的多个触发电路相关连接，构成移位寄存器，在通过该移位寄存器将所述测试结果信号串行输出时，在这些触发电路间分别仅插入一个所述多路转换器。