[发明专利]光学信息再生方法及装置无效

专利信息
申请号: 99101310.7 申请日: 1999-01-15
公开(公告)号: CN1138261C 公开(公告)日: 2004-02-11
发明(设计)人: 岛元昌美;梅山竹彦;井上义士 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: G11B7/00 分类号: G11B7/00;G11B7/09
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 姜郛厚;叶恺东
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 涉及用相位差法的跟踪误差信号构成跟踪伺服系统的光学信息再生方法及装置,目的在于通过修正随坑深度及透镜位置而变化的偏移的影响而获得无偏移的跟踪误差检测装置。本发明的光学信息再生方法及装置通过在修正偏移时和检测跟踪误差信号时有选择地切换检测相位差的相位比较装置的输入信号,将随坑深度及透镜位置而变化的跟踪误差信号的偏移作为电压值进行测定,通过学习的反复控制来修正该偏移。
搜索关键词: 光学 信息 再生 方法 装置
【主权项】:
1.一种光学信息再生装置,它使光点跟踪作为信息坑列被记录在信息载体上的信息磁道,读取记录信息,其特征在于:上述光学信息再生装置有:产生光束的光源(21);包括第一~第四光检测器(25a~25d)的光电变换装置(25);以及通过上述信息载体将来自上述光源的光束引导到上述光电变换装置的光学系统(22、24),上述第一~第四光检测器(25a~25d)将上述光束变换成电信号,上述第一~第四光检测器(25a~25d),在信息坑的远场中,位于假想的X-Y坐标系(在光学系统的轴线上有原点,其X轴沿磁道的切线方向延伸,其Y轴沿与磁道的切线垂直的方向延伸)内的四个象限内,第一及第二光检测器(25a~25b)位于Y轴的一侧,第三光检测器(25c)位于Y轴的另一侧,而且相对于第一光检测器(25a)位于呈对角的位置,第四光检测器(25d)位于Y轴的另一侧,而且相对于第二光检测器(25b)位于呈对角的位置,上述光学信息再生装置还备有:个别地调整来自上述第一~第四光检测器(25a~25d)的各个输出信号的相位的第一~第四相位调整装置(3、4、11、12);检测第一和信号(A’+B’)和第二和信号(C’+D’)的相位差,或者第三和信号(A’+C’)和第四和信号(B’+D’)的相位差的相位差检测装置(6),上述第一和信号(A’+B’)是将来自上述第一相位调整装置(3)的输出信号(A’)和来自上述第二相位调整装置(4)的输出信号(B’)相加后的信号,上述第二和信号(C’+D’)是将来自上述第三相位调整装置(11)的输出信号(C’)和来自上述第四相位调整装置(12)的输出信号(D’)相加后的信号,上述第三和信号(A’+C’)是将来自上述第一相位调整装置(3)的输出信号(A’)和来自上述第三相位调整装置(11)的输出信号(C’)相加后的信号,上述第四和信号(B’+D’)是将来自上述第二相位调整装置(4)的输出信号(B’)和来自上述第四相位调整装置(12)的输出信号(D’)相加后的信号;根据来自上述相位差检测装置(6)的上述第一和信号(A’+B’)和上述第二和信号(C’+D’)的相位差的输出信号,调整上述第一~第四相位调整装置(3、4、11、12),以便消除该相位差的偏移修正学习装置(7);以及根据来自上述相位差检测装置(6)的上述第三和信号(A’+C’)和上述第四和信号(B’+D’)的相位差的输出信号,获得跟踪误差信息的跟踪控制装置(8)。
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