[发明专利]一种在硅基质中成形内埋板的方法无效
申请号: | 99103647.6 | 申请日: | 1999-03-09 |
公开(公告)号: | CN1122308C | 公开(公告)日: | 2003-09-24 |
发明(设计)人: | B·弗利德纳;W·伯格纳 | 申请(专利权)人: | 西门子公司 |
主分类号: | H01L21/8242 | 分类号: | H01L21/8242;H01L21/70 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 赵辛,章社杲 |
地址: | 联邦德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种在硅基质中成形内埋板的方法,该方法使用在其中刻有深沟的硅基质。在所述沟中形成高度掺杂的多晶硅层。然后在所述沟中在所述多晶硅层上面形成一个氮化物层。在形成所述多晶硅层和所述氮化物层之后,将多晶硅层和氮化物层从所述沟的侧壁的某些最上面部分除去。以露出位于所述侧壁的最上面部分的硅基质。在露出位于所述侧壁最上面部分的外露的硅基质上形成一个环形氧化物层,从而防止所述多晶硅层的任何边缘因蚀刻步骤而外露。 | ||
搜索关键词: | 一种 基质 成形 内埋板 方法 | ||
【主权项】:
1.一种在硅基质中成形内埋板的方法,该硅基质上具有刻入其中的深沟,该沟具有限定该沟的深度的侧壁,所述方法包括:在所述沟中形成一个高度掺杂的多晶硅层;在所述沟中于所述多晶硅层上形成一个氮化物层;在形成上述多晶硅层和上述氮化物层之后,从所述沟侧壁的最上面部分蚀刻所述多晶硅层和所述氮化物层,从而露出位于所述侧壁的最上面部分的所述硅基质,和在露出所述硅基质之后,在位于所述侧壁的最上面部分的外露的硅基质层上面形成一个环形氧化物层,以便保护由所述蚀刻步骤露出的所述多晶硅层的边缘。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西门子公司,未经西门子公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/99103647.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造